咨询电话:18928463988
Products产品中心
首页 > 产品中心 > 19461688伟德国际 > 晶圆形貌测量系统
  • WD4000国产半导体晶圆表面形貌测量系统

    WD4000国产半导体晶圆表面形貌测量系统兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像,实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。

    访问次数:281
    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-08-12
  • WD4000晶圆厚度翘曲度粗糙度检测设备

    WD4000晶圆厚度翘曲度粗糙度检测设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像,实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。

    访问次数:314
    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-08-12
  • WD4000半导体晶圆Warp翘曲度量测设备

    WD4000半导体晶圆Warp翘曲度量测设备通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数测量。

    访问次数:251
    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-08-12
  • WD4000晶圆几何形貌检测机

    WD4000晶圆几何形貌检测机可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。

    访问次数:309
    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-08-12
  • WD4000系列晶圆厚度Warp检测设备

    WD4000晶圆厚度Warp检测设备自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。使用光谱共焦对射技术测量晶圆 Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI 等参数,同时生成 Mapping 图。

    访问次数:374
    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-08-12
  • WD4000系列WD4000无图晶圆形貌检测设备

    WD4000无图晶圆形貌检测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。

    访问次数:274
    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-08-12
共 30 条记录,当前 2 / 5 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
深圳市中图仪器股份有限公司
  • 联系人:罗健
  • 地址:深圳市南山区西丽学苑大道1001号南山智园
  • 邮箱:sales@chotest.com
  • 传真:86-755-83312849
关注我们

欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息

扫一扫
关注我们
版权所有 © 2024 深圳市中图仪器股份有限公司 All Rights Reserved    备案号:粤ICP备12000520号    sitemap.xml
管理登陆    技术支持:仪表网    
Baidu
map