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  • SuperView W3白光干涉仪 光学表面分析仪

    SuperView W3白光干涉仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、工科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,

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    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-08-09
  • SuperView WX 100白光干涉测头 轮廓仪

    SuperView WX 100白光干涉测头是一款非接触式精密光学测头,其基于白光干涉和精密扫描研制而成,主要由光学干涉系统和Z向扫描系统组成,具有体积小、重量轻、便携的特点,能够方便地搭载在各种具备XY水平位移架构的平台上,在产线上对器件表面进行自动化形式的测量,直接获取与表面质量相关的粗糙度、轮廓尺寸等2D/3D参数。

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