形貌仪采用全自动测量，提高测量效率，还采用白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，能够快速的对样品进行三维测量，具有高重复性和高分辨率的特点，可以用做尺寸比较大的样品或检测现场使用，测量度高。已被多个实验室、大学和行业使用。
它能够在同一测试平台上运行多种测试，只需单击按钮，就能转换成像模式。这种组合可以轻松地对任何表面进行成像如透明、平坦、黑暗、扁平、弯曲的表面等。每种成像模式都具有各自的优势，并且各项技术彼此互补。该项整合技术不仅有利于数据的综合分析，也可以减少维护成本，从而提高效率。
形貌仪具有哪些特点？
1、采用了白光共聚焦色差技术，该项技术特点是能够是分辨率提高到纳米级别。
2、在测量过程中，不会对样品产生破坏作用，而且测量的速度非常快，能够节约时间，度也相对比较高。此外，能够测量的样品种类非常的多，能够测量透明样品和非透明样品，高反射率样品和低反射率样品，金属材料，以及表面光滑和粗糙的材料都可以进行测量。尤其适合于测量表面，具有高坡度高曲折度的材料。
3、不受到样品反射的影响，也不受到外界环境光的影响，测量的样品不需要通过再次的加工处理，可以直接测量，测量相对比较简单，测量的范围也比较大，可以进行Z方向的测量。
4、只需一次测量便可任意进行再分析：变换测量标准（直线/后半/后半/R面/两端）的分析、设定任意评价范围的分析、以及消除凹凸等异常数据后的分析等等，只需一次测量、便可任意进行再分析。
5、没有多余部分，处于地位的扩张性：从二维粗糙度到三维粗糙或，或是从粗糙度（二维/三维）到轮廓的复合机，只需追加单元便可容易地升级。
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